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  • × 8th Symposium on Frequency Standards and Metrology 201
  • × External perturbations
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1 Frequency metrology using highly charged ions [会议论文]

作者:Crespo López-Urrutia, J.R.^1

关键词:External perturbations;Fine structure constants;...

会议举办机构:Max-Planck-Institut für Kemphysik, Saupfercheckweg 1, Heidelberg

会议时间:2016

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